X射線熒光鍍層厚度測(cè)量儀STF-110

X射線熒光鍍層厚度測(cè)量儀STF-1101.即放即測(cè)！ 2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量！ 3.可無標(biāo)樣測(cè)量！ 4.通過樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！

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更新時(shí)間：2024-12-07
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X射線熒光鍍層厚度測(cè)量儀STF-1101.即放即測(cè)！ 2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量！ 3.可無標(biāo)樣測(cè)量！ 4.通過樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！

［X射線熒光鍍層厚度測(cè)量儀STF-110的主要特征］
1. 通過自動(dòng)定位功能提高操作性測(cè)量樣品時(shí)，以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大提高樣品定位的操作性。
2. 微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。
3. 多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。
4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像測(cè)量位置。
5. 對(duì)應(yīng)大型印刷線路板（選配）可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。
6. 低價(jià)位與以往機(jī)型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。

［主要產(chǎn)品規(guī)格］
檢測(cè)器	比例計(jì)數(shù)管
X射線源	空冷式小型X射線管
準(zhǔn)直器	0.1、0.2mmφ2種
樣品觀察	CCD攝像頭
樣品臺(tái)移動(dòng)量	250（X）×200（Y）mm
樣品最大高度	150mm

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